東大阪市立産業技術支援センター

公益財団法人ＪＫＡ補助事業購入機器一覧

公益財団法人ＪＫＡ補助事業購入機器一覧

平成18年度から始まった、(公財)JKA からの補助金により機器が更新され、より使い易くなりました。

令和4年度	◇　小型自動切断機 ◇　自動研磨機 ◇　自動振動研磨機
公益財団法人ＪＫＡの補助事業を活用し、上記機種を新しく導入しました。ぜひ、ご活用ください。利用開始日　令和5年4月より

令和３年度	◇ 　精密万能試験機
公益財団法人ＪＫＡの補助事業を活用し、上記機種を新しく設置(更新）しました。ぜひ、ご活用ください。利用開始日　令和４年2月より

令和２年度	◇　電子線三次元粗さ解析装置
公益財団法人ＪＫＡの補助事業を活用し、上記機種を新しく設置(更新）しました。ぜひ、ご活用ください。利用開始日　令和３年２月より

令和元年度	◇　エネルギー分散型X線分析装置
公益財団法人ＪＫＡの補助事業を活用し、上記機種を新しく設置(更新）しました。ぜひ、ご活用ください。利用開始日　令和元年９月より

平成３０年度

◇　蛍光Ｘ線分析装置

当センターでは、市内製造業の新技術・新製品の開発や試験・評価を支援するため、このほど
（財）ＪＫＡより補助金を受け、「蛍光Ｘ線分析装置」を新規更新いたしました。　
是非、ご活用ください。

利用開始日　　平成３１年2月1３日（水）より

●仕様説明●        ３１年２月新規導入(更新)
    メーカー          株式会社　島津製作所

　試料に含まれる金属元素の種類を定性分析可能で、ファンダメンタルパラメータ（FP）法による標準試料無しの定量分析もできます。試料観察カメラがあり、分析箇所の位置確認もできます。RoHS指令などの環境規制物質の分析も可能です。薄膜FP法によるめっき（薄膜）の厚み測定も可能です（但し基板材料とめっき材料の材質、多層膜の場合はめっきの積層順などの情報が必要です）。試料雰囲気として大気と真空が使えます。

■ 試料サイズ：　
             最大300mm（ｗ）×275mm（ｄ）×約100mm（ｈ）
■試料孔　
φ15mm

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＊詳細は下記PDF資料をご確認ください。

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　こちらをご覧ください

平成２９年度	◇　ＣＮＣ三次元測定機
公益財団法人ＪＫＡの補助事業を活用し、上記機種を新しく設置しました。ぜひ、ご活用ください。利用開始日　平成３０年４月より

平成２８年度	◇　精密万能試験機
公益財団法人ＪＫＡの補助事業を活用し、上記機種を新しく設置しました。ぜひ、ご活用ください。利用開始日　平成２９年４月より

平成２7年度	◇　マイクロピッカーズ硬さ試験機（FM-ARS9000)
	◇　ピッカーズ硬さ試験機（FV-800)
公益財団法人ＪＫＡの補助事業を活用し、上記２機種を設置（更新）しました。ぜひ、ご活用ください。利用開始日　平成2８年2月より＊詳細は下記ＰＤＦ資料をご覧ください。　　◇マイクロピッカーズ硬さ試験機（FM-ARS9000)　　　　　◇ピッカーズ硬さ試験機（FV－800）

平成２６年度	◇　顕微フーリエ変換赤外分光装置
公益財団法人ＪＫＡの補助事業を活用し、上記機種を設置（更新）しました。ぜひ、ご活用ください。利用開始日　平成２７年１月より

平成２５年度	◇　超解像度デジタルマイクロスコープ
	◇　X線回折装置
公益財団法人ＪＫＡの補助事業を活用し、上記２機種を設置（更新）しました。ぜひ、ご活用ください。利用開始日　平成２５年１２月より＊詳細は下記ＰＤＦ資料をご覧ください。 ◇超解像度デジタルマイクロスコープ　　　　　◇Ｘ線回折装置

平成２４年度	◇ 倒立型金属顕微鏡
	◇ 超微小押込み硬さ試験機
	◇ 表面粗さ・輪郭形状測定機
東大阪市立産業技術支援センターでは、このほど（財）ＪＫＡの補助事業を活用し、上記３機種を設置（更新）しました。　是非、ご活用ください。　　　　　利用開始日　　平成２５年１月より　　　＊詳細は下記PDF資料をご確認ください。　　◇倒立型金属顕微鏡　　　◇超微小押込み硬さ試験機　　　◇表面粗さ・輪郭形状測定機

平成２３年度

◇　電子線三次元粗さ解析装置

東大阪市立産業技術支援センターでは、このほど（財）ＪＫＡの補助事業を活用し、
「電子線三次元粗さ解析装置」を設置（機能更新）しました。　是非、ご活用ください。

利用開始日　　平成24年1月より

●仕様説明●

　本装置は、一般の電子顕微鏡とは異なり、４本の２次電子検出器を備え、各検出器からの信号を処理することにより電子顕微鏡観察領域での非常に微細な凹凸を定量的に観察できる走査型電子顕微鏡です。高精度研磨面、微細溝などの形状解析（等高線図、断面曲線、鳥瞰図、表面粗さなど）ができ、一般の電子顕微鏡では分からない形状情報が多く得られます。

■　＜SEM観察系＞
加速電圧：0.3～30kV、分解能：3.5nm、倍率：×10～300,000
二次電子検出器：4ch
試料サイズ：最大径　    φ125×H10mm
　　　　　　　   最大厚　     φ50×H30mm
　　　　　　　   小型試料　 φ10×H10mm

■　＜三次元計測系＞
縦方向分解能：1nm
最大測定点数：１ライン測定　32,767点
　　　　　　　　　　エアロビュー測定　1,000,000点
解析機能：鳥瞰図表示、等高線表示、切断面面積率、指定面積あたり山数、粒度、表面積代替値、表面粗さ（Ra、Rz等）

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＊詳細は下記PDF資料をご確認ください。

こちらをご覧ください　

平成２２年度

◇　エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置

当センターでは、市内製造業の新技術・新製品の開発や試験・評価を支援するため、このほど（財）ＪＫＡより補助金を受け、「エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置」を更新（機能強化）いたしました。　是非、ご活用ください。

利用開始日　　平成22年12月1日（水）より

●仕様説明●        22年１０月新規導入
    メーカー         エスアイアイ・ナノテクノロジー㈱

　試料に含まれる元素の種類が分析可能で、それらの量を標準試料なしでオーダー分析（FP法）できます。
CCDカメラで分析箇所が特定でき、RoHS指令などの環境
規制物質の測定も可能です。

■ 試料　固体　・　粉体　　
　　　　　分析元素範囲：Na～U

■ 試料サイズ：　
             170mm（ｗ）×200mm（ｄ）×40mm（ｈ）
                      （真空雰囲気測定時）
　　　　 φ30mm×20mm 12試料まで連続測定可能

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＊詳細は下記PDF資料をご確認ください。

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